APT是一个程序开发语言，Automatic Test Pattern Generation(ATPG)自动测试向量生成是在半导体电器测试中使用的测试图形向量由程序自动生成的过程。测试向量按顺序地加载到器件的输入脚上，输出的信号被收集并与预算好的测试向量相比较从而判断测试的结果。ATPG有效性是衡量测试错误覆盖率的重要指标。

外文名

Automatic Test Pattern Generation(ATPG)

属性

程序开发语言

简称

ATPG

简介

自动测试图样产生

（英语：

Automatic test pattern generation, ATPG

）系统是一种工具，产生资料给制造出来后的数字电路作测试使用。

超大规模集成电路的测试平台，要达到非常高的错误涵盖率（Fault coverage）是非常困难的工作，因为它的复杂度很高。针对组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑电路（Sequential logic）的电路测试，必须要使用不同的 ATPG 方法。

阶段

一个ATPG的周期可以分为两个阶段：

1、测试的生成

2、测试的应用

在测试的生成过程中，针对电路的设计的测试模型在Gate或Transistor Level产生，以使错误的电路能够被该模型所侦测。这个过程基本上是个数学过程，可以通过以下几个方法获得：

1、手工方法

2、算法产生

3、伪随机产生－－软件通过复杂的ATPG程序产生测试图形向量

在创建一个测试时，我们的目标应该是在有限存储空间内执行高效的测试图形向量。由此可见，ATPG需要在满足一定错误覆盖率的条件下，产生尽可能少的测试向量。主要考虑到下述因素：

1、建立最小测试组所需要的时间

2、测试图形向量的大小，软件、硬件的需求

3、测试过程的长度

4、加载测试图形向量所需的时间

5、外部设备

算法

现在被广泛使用的ATPG算法包括：D算法，PODEM算法和FAN算法。任何算法都需要一种叫“path sensitization”的技术，它指的是在电路中寻找一条路径以使得路径中的错误都能表现在路径的输出端。

最广泛应用的算法是D算法，D代表1而D'代表0，D和D'互补。具体的方法在此不再赘述。

ATPG产生过程包含以下步骤：

1、错误选择，选择需要测试的错误

2、初始，寻找合适的输入向量集

3、传输向量集

4、比较结果

可测试性设计

可测试性设计

（英语：

Design for Testability, DFT

）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能够在测试阶段节约更多的时间和金钱。