漆膜测厚仪（测导磁材料非导磁层厚度的仪器）

测量原理

磁性测厚法

漆膜测厚仪

涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。

超声波测厚法

此种方法测量涂镀层厚度的应用较少，,国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合，但一般价格昂贵测量精度也不高。

电解测厚法

此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高，测量起来较其他几种麻烦。

放射测厚法

此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，适用于一些特殊场合。

影响因素

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用和试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率和其材料成分及热处理方法有关。使用和试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

仪器对那些妨碍测头和覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头和试样表面保持垂直。

类型  漆膜测厚仪可分为：机械式测厚仪　　此种上世纪70年代用过，是一种破坏式，精度差，要破坏产品，己经淘汰。电解式测厚仪　　测厚仪比较大，操作复杂，价格高，也是要放药水去破坏镀层，时间长，一般很少人用。磁感应测厚仪　　位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即镀层厚度。此方法国际公认方便精准快捷。^[1]应用漆膜测厚仪用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。